- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analogues; mesure des angles; mesure des superficies; mesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 9/02017 - Interféromètres caractérisés par la configuration du parcours du faisceau avec plusieurs interactions entre l’objet ciblé et les faisceaux lumineux, p.ex. les réflexions des faisceaux provenant de positions différentes
Détention brevets de la classe G01B 9/02017
Brevets de cette classe: 41
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| KLA Corporation | 1223 |
2 |
| VDL Enabling Technologies Group B.V. | 14 |
2 |
| Qunnect Inc. | 15 |
2 |
| META Platforms Technologies, LLC | 4806 |
2 |
| Apple Inc. | 50209 |
1 |
| Hitachi, Ltd. | 16452 |
1 |
| Mitsubishi Electric Corporation | 43934 |
1 |
| Corning Incorporated | 9932 |
1 |
| ASML Netherlands B.V. | 6816 |
1 |
| Omron Corporation | 6968 |
1 |
| Fraunhofer-Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V. | 4569 |
1 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 2646 |
1 |
| AMO Development, LLC | 691 |
1 |
| AOSense, Inc. | 29 |
1 |
| Associated Universities, Inc. | 45 |
1 |
| Dscg Solutions, Inc. | 33 |
1 |
| Egis Technology Inc. | 146 |
1 |
| Heidelberg Engineering GmbH | 50 |
1 |
| IDOM, S.A.U, a legal entity | 15 |
1 |
| Institut National de La Recherche Scientifique | 246 |
1 |
| Autres propriétaires | 17 |